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束蘊儀器（上海）有限公司

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聯(lián)系人：丁琳（市場）

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晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)

詳細(xì)摘要：晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | Al...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
電阻率測試儀（RESmap ）

詳細(xì)摘要：德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge |...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
Omega/Theta - 搖擺曲線測量

詳細(xì)摘要：測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強烈的強度降低。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀

詳細(xì)摘要：晶錠XRD有著的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
Freiberg XRD--SDCOM--小晶體樣品臺式X射線單晶定向儀

詳細(xì)摘要：在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中，晶片必須正確地對準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

詳細(xì)摘要： Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言